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仪器介绍
X射线粉末衍射仪
设备名称：X射线粉末衍射仪
英文名称：X-ray powder diffractometer
生产厂家：Bruker/ Switzerland
仪器型号：D8 ADVANCE
设备价格：15.6万美元
性能参数：
射线源： Cu靶
2θ角扫描范围：0.2–150 °
测角仪精确度：0.001 °
样品室控温范围：室温至450 ℃, 控制精度：0.1 ℃。
探测器：LynxEye半导体阵列探测器，最大计数:1.3×108cps
应用范围：
应用于晶体物质定性和定量相分析，结晶学分析，结构解析、织构和残余应力分析等；可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、薄膜等片状、块状、粉末状固体。能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。配备lynxeye 超能检测器，使检测灵敏度提高一个量级，可以达到或超出旋转阳极靶的效果。