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仪器介绍
冷场发射扫描电子显微镜
设备名称：冷场发射扫描电子显微镜
英文名称：Cold Field Emission Scanning Electron Microscope
生产厂家：JEOL LTD./JAPAN （日本电子株式会社/日本）
仪器型号：JSM-7500F
[附：Noran System 7能量色散谱仪（EDS）；背散射电子探头（ＢＥＩ）]
设备价格：35万美元,
性能参数：分辨率:1.0nm (15kV)/1.4nm (1kV)；加速电压：0.1KV-30kV; 放大倍数：25-100万倍;EDS:Be-Fm,分辨率优于138 eV ( MnKa )
应用范围：
广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效的仪器。另外,该仪器还可以利用配置的Ｘ射线能谱仪对样品表面进行面、点、线微区分析，是研究材料结构、组成与性能关系所不可缺少的表征设备。